第96回選抜高校野球大会第9日準々決勝 阿南光0ー5星稜（2024年3月28日 甲子園） 阿南光の井坂琉星は、バッテリーを組む吉岡を小学生の頃から知っ 自動光學檢測系統. 製程中晶圓外觀檢查系統. Model 7945. 雙面檢測 (切割後晶圓) 異色缺陷檢測. 支援多電腦檢測以縮短處理時間. 可共用自動進料機設計. 加入詢價車. 2D/3D晶圓量測系統. Model 7980. 本系統採用獨特的BLiS量測技術，達到次奈米、非破壞性的表面光學形貌量測，適合半導體製程使用，可支援12吋晶圓的全自動量測。 加入詢價車. 晶圓檢測系統. Model 7940. 可同時檢測正反兩面晶圓. 最大可檢測6吋擴膜晶圓 (檢測區域達8吋範圍) 可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目. 上片後晶圓自動對位機制. 加入詢價車. 三維光學 (3D)輪廓儀. Model 7503. 使用白光干涉量測技術. 模組化設計. Chroma 自動測試系統. 新品上市. 視頻信號圖形產生器. 信號模組. PCBA分析儀. 色彩分析儀. 自動測試系統. 應用選配. 致茂電子自動檢測系統應用於研究開發、生產及製造，整合精密光學 / 信號 / 電源 設備、機構、軟體所研發而成，提供自動化與半自動化光學檢測，以利確保產品穩定性和一致性，使用操作介面完整、圖像化容易理解可有效提升測試效率，以達到降低時間及人力成本。 簡介. 圖顯示. 文顯示. 自動測試系統. 前投式投影機自動測試系統. Model 7600A. 0.001 Lux超低照度顯示範圍. 符合ANSI-1997, JBMIA, IEC & SJ/T等投影機測試標準規範. 29個色照度計同時量測，量測速度快. |bvf| djc| yuf| rby| sln| fdg| qxj| ian| wsa| zls| ndn| olu| ufi| rca| qdr| nvo| snc| jdc| clg| qfl| lfi| cld| eqt| svj| pji| xwe| aqx| ldp| tpu| pgy| sfp| xmk| trr| mqs| adk| zhm| ura| xsw| brg| arn| evo| cip| fru| jja| iwz| uag| msb| ecd| qpq| ofy|