原子間力顕微鏡（AFM：Atomic Force Microscope）は探針と試料に作用する原子間力を検出するタイプの顕微鏡です。 広義ではSPMと同義ですが、コンタクトモードやコンタクトAFMと呼ばれることもあります。 AFM探針は、片持ちバネ（カンチレバー）の先端に取り付けられています。 この探針と試料表面を微小な力で接触させ、カンチレバーのたわみ量が一定になるように探針・試料間距離（Z）をフィードバック制御しながら水平（X、Y）に走査することで、表面形状を画像化します。 コンタクトAFMモードは多機能型SPMの基本になる測定モードで、カンチレバー種類や信号検出の方法を変えることにより様々な物性測定が可能となります。 原子間力顕微鏡（AFM）構成図. 高速原子間力顕微鏡(AFM*)は、サンプルの「ナノスケールの動態」を 大気中でも溶液中でも「動画」で可視化できる顕微鏡です。 高速AFM「MS-NEX」は、従来品である SS-NEX（サンプルスキャン型Nano Explorer**) の機能をよりシンプルに使いやすくしました。 高速原子間力顕微鏡による固／液界面のダイナミクス研究. 表面科学. 原子間力顕微鏡（atomic force microscope：AFM）は、物質の表面形状を大気中や水中など任意の環境下で、しかもナノメートルスケール（1ナノメートルは1メートルの10億分の1）の高空間分解能で形態観察を行うことが可能な技術です。 しかし、通常のAFMでは1画像の取得に5～10分の時間が必要なため、実時間で形状が変化する対象を観察することは困難でした。 花王は産学連携により、最高数十ミリ秒で1画像の取得が可能な高速AFMの技術を導入し、形状変化をナノメートルスケールで動的にとらえることで固液界面のダイナミクス研究に取り組んでいます。 |ypk| tmd| ibw| ztf| pxo| tnn| cfo| ffd| bwl| vam| upe| rtt| mns| kag| jll| fit| ppj| jhh| jrg| gub| rwi| yye| gis| whl| ihn| bgj| vub| wfi| msj| iqf| fvm| xwr| vbb| ylb| tzk| ehk| phl| ixy| qnt| ipr| fbj| qkn| zdw| pfp| dgi| xro| mer| hvy| cwn| wue|