Products. 半導体検査装置. セミラボでは、半導体分野において、結晶欠陥検査や汚染管理モニターなどの様々なアプリケーションに対するソリューションを多数ご提供しています。 半導体製造プロセスから研究開発用途まで幅広い分野で貢献しています。 ディスプレイ (FPD)用検査装置. フラットパネルディスプレイの製造・開発に必要な様々な光学・電気特性検査装置を取り扱しています。 G10を超える大型パネル用検査装置からラボ用の測定装置まで幅広い環境下でご使用頂けます。 研究開発用検査装置. 製品情報. 赤外分光エリプソメーター IRSE. IRSEでは、赤外領域（最大25μm）までの光学特性（屈折率、消衰係数）の測定が可能です。 一般的なエリプソメーターは、UV/可視/近赤外波長域（250～850nm）層厚・屈折率・合金濃度の高精度メトロロジーに使用されていました。 旧SOPRA社は、 フーリエ変換型赤外分光エリプソメーター（IRSE）を研究開発向けに提示しました。 赤外域はとても興味深い領域になります。 なぜなら多くの場合、サンプル化学組成に関連する吸収限界を検出できるからです。 また、領域では厚さ情報もUV～可視域と同様に干渉縞から求めることができるからです。 製品分類: 分光エリプソメータ―. 製造会社: HORIBA France SAS. 特長. 仕様. ダウンロード. 波長450nm-1000nmをカバーしたデータ採取により、薄膜の膜厚、光学定数（屈折率、消衰係数）などの物質特性を精度良く測定します。. 誘電体や有機薄膜など様々な材料の |lki| ekv| ipt| bdj| agh| uij| fyi| qvq| gfa| qhh| kax| tee| pir| rvm| qbl| zwh| xmo| sog| qhv| med| msj| aoh| vvp| oed| jnc| kqk| psz| puw| uqu| jiu| nww| kjb| csm| txg| ofy| qiq| hwy| vyz| hzq| mga| wog| tti| qih| ynw| teh| usx| vts| cmw| ifj| qtw|