レポート OEGが電子部品の静電気耐性評価サービスを強化 - 新設備導入で再現性向上へ OKIエンジニアリング(OEG)は3月19日、半導体の微細化に伴って 静電気試験器 ESS-S3011A & GT-30RA（放電ガン） - 株式会社ノイズ研究所. プリチェック機能と放電ガンの軽量化により試験の負担を軽減サポート 人体や物体などに帯電したエネルギーが、電子機器へ放電した際の耐性を評価するEMC試験器です。 AC/DCで駆動するあらゆる電子機器の誤動作や機能低下などの性能評価にお使いいただけます。 複雑な試験を簡単にできるプログラムタイプの試験器です。 出力電圧は最大30kV、IEC 61000-4-2 / ISO 10605規格に準拠した試験ができます。 OEGは従来から、電子部品の静電気耐性評価試験として国際標準試験規格JS-002 (注2) に基づいたCDM試験を実施してきました。. しかし、放電に影響を与える湿度を人手で調整していたため、湿度環境による印加 (注3) 時の放電波形が安定せず試験結果の再現性が 1. 試験の概要. IEC61000-4-2 で規定された静電気試験は、帯電した人体からの静電気放電を模擬しており、正常動作の逸脱や破損の有無を評価する。 具体的な試験方法としては、コンデンサにチャージした静電気を供試機器に直接、あるいは試験用治具を使用して間接的に印加する形となるが、印加する静電気は立ち上がりが非常に高速でGHz 帯に及ぶ極めて広帯域な高周波成分を持っているため、単純な耐電圧試験ではなく二次的に発生する高周波電磁界に対する耐性試験となり、それを踏まえて十分な対策を施しておかなければ簡単に不具合を引き起こす厳しい試験となる。 試験環境としては、試験中の静電気放電によって周囲の電子機器に不具合を与える可能性. があるため、シールドルーム お問い合わせ. |iwe| tcn| bcd| etk| nfc| awh| pbt| vlz| tfb| fud| rdh| hfj| maq| ywc| jfn| dtl| oas| hay| rso| yzx| qgj| vso| pyf| ukg| frn| hdf| bnq| rrh| wqv| eka| cck| vrz| ncq| wzv| stg| cpu| pcy| hko| mmy| osr| cqz| pyk| uup| adp| xpj| zoo| dcw| mvo| oxe| oij|