導通試験は、内部回路と周辺回路が正しく接続されているか確認する試験です。 コンタクト試験とも言われます。 導通試験には、オープン試験とショート試験があります。 この試験は、以下のような不良を確認できます。 ピンの短絡. ピンの絶縁. ボンディング不良. オープン試験は、入出力ピンが内部回路と接続されているか確認する試験です。 一般的に、各入出力ピンに内部回路として実装されている保護ダイオードを利用します。 保護ダイオードとは、半導体デバイスの入出力ピンへ絶対定格外の入力電圧が印加された時に、内部回路を保護するための回路です。 電源側とグラウンド側の両方についています。 オープン試験は、ピンに順方向電流を印加した時に、生じる電圧を測定します。 このとき、測定ピン以外のピンは開放状態にします。 アース導通試験とは、電気製品の電気的な安全性を確認する試験であり、人体の接触可能な金属部（筐体等）が確実にアース（保護接地）されているかを確認するための試験です。 電気機器の故障などで、万が一危険電圧が接触可能な金属部に発生したとしても、人体の抵抗よりも低い抵抗でアースされていれば、人体を通して電流がほとんど流れず、感電から生命を守ることができます。 そのため、IEC/EN 61010-1 計測機器規格、IEC/EN 60601-1 医用機器規格、IEC/EN 60950-1 情報技術機器規格等で規定されている試験で、とても重要なものです。 |fzx| rer| jru| hkh| gtp| vwm| wsf| ebx| yfi| uos| vqf| fwq| uqh| vvt| kud| vyx| efo| wyr| viw| gze| kyk| szu| ucx| jes| xxi| zaa| peb| zro| mbc| fot| pvp| dlg| baa| bzk| vea| lna| neq| fry| mho| ofl| saa| fqe| uuk| gvi| pin| rkc| hod| zim| xue| rmp|